失效分析系统

通过微弱的光发射和热发射来定位半导体器件上失效缺陷位置的显微镜成像系统。

加入对比 共 3 件产品
产品图像 产品型号 产品名称
产品图像: 产品型号:C14229-01 产品名称:Thermal F1 热发射显微镜
产品图像: 产品型号:C10506-04-16 产品名称:iPHEMOS-MP 倒置微光显微镜
产品图像: 产品型号:C11222-16 产品名称:PHEMOS-1000 微光显微镜
请联系我们获取更多信息
  • 资料索取
  • 价格咨询
  • 产品货期
  • 产品定制
  • 演示申请
  • 样品申请
  • 技术支持
  • 其他

产品信息|应用领域|技术支持|新闻活动|澳门百老汇401中国

Copyright © 澳门百老汇网站 (China) Co.,Ltd. All Rights Reserved. 

吉ICP备13002482号-1 京公网安备11010502026391